冷熱沖擊三箱式老化箱主要是測試電子產(chǎn)品在高溫、低溫瞬間變化的氣候環(huán)境下的貯存、運(yùn)輸和使用時(shí)的性能試驗(yàn)，主要用于各種各類型的電子產(chǎn)品在模擬冷溫、熱溫時(shí)溫度瞬間變化的氣候條件下的適應(yīng)性試驗(yàn)，對電子產(chǎn)品的物理以及其相關(guān)性能進(jìn)行測試或試驗(yàn)。

冷熱沖擊三箱式老化箱技術(shù)參數(shù)如下：

內(nèi)尺寸(WхHхD)cm：36х35х40；50х40х40；60х50х50；70х60х60

溫度范圍：A:-40℃～150℃ B:-55℃～150℃C:-65℃～150℃

溫度波動(dòng)：±0.5℃;均勻度±2℃

樣品區(qū)溫度波動(dòng)：±0.5℃（恒溫時(shí)）

升溫時(shí)間：+25℃~+200℃，30min

降溫時(shí)間：+25℃~-75℃，60min

控制器介紹：

1、本設(shè)備的控制器彩色LCD控制器, 熒幕的分辨率為：320(W)×240(H)點(diǎn)(RGB)，美觀、漂亮。 

2、控制器全觸摸式操作：高檔、易用，矩陣方式(8×6)觸摸屏。

3、表頭溫度解析精度： 0.01℃。

4、產(chǎn)品采用電阻式高精度觸摸屏操作方式，可直接點(diǎn)擊熒幕進(jìn)行功能選擇或者參數(shù)設(shè)置。

5、可程序功能有120Patten×1200 step×999 cycle 之容量。

6、畫面顯示功能：LCD顯示屏顯示，可顯示試驗(yàn)條件(包括溫度段、循環(huán)次數(shù)、運(yùn)行時(shí)間及剩余時(shí)間等)。

7、DATA BACKUP：

a、初期設(shè)定為FLASH ROM，使用RAM的電池作Memoty backup。

b、保存時(shí)間  6個(gè)月(FULL CHARGE)。

8、試驗(yàn)方式有2ZONE,3ZONE,STEP,三種方式。

9、預(yù)約啟動(dòng)功能，系統(tǒng)時(shí)間到達(dá)設(shè)置時(shí)間后，系統(tǒng)會(huì)自動(dòng)運(yùn)行，可自如的控制運(yùn)行時(shí)間及工作狀況。

10、斷電重啟功能，可選擇冷起/熱起/中斷進(jìn)行操作。