步入式高溫老化試驗室/大型低溫環(huán)境實驗設備技術參數：

、尺寸大小：寬200×高200×深200㎝（可以根據客戶要求定制，外尺寸以實際尺寸為準）

二、溫度范圍：0℃/--20℃/-40℃/-60℃/-70℃～＋85℃/100℃（顧客可選擇任意個溫度范圍，溫度越低價格越貴，請根據自家產品的需求選擇合適即可）。

三、溫度波動度: ±0.5℃（溫度波動度為中心點實測zui高溫度和zui低溫度之差的半）。

四、溫度均勻度: ±2.0℃（溫度均勻度為每次測試中實測zui高溫度和zui低溫度之差的算術平均值）。

五、升溫時間: 由常溫+10℃升溫至＋85℃小于60分鐘非線性空載升溫約3℃/min。

六、降溫時間: 由常溫+10℃降至0℃小于30分鐘非線性空載降溫約1℃/min，由常溫+10℃降至-20℃小于45分鐘非線性空載降溫約1℃/min，由常溫+10℃降至-40℃小于60分鐘非線性空載降溫約1℃/min。

七、工作噪音

A聲級≤60dB(A)

(在環(huán)溫25℃，回聲少的隔音室內測得；采用A計權，測試8個點的平均值；各測試點水平離噪音源1米、高度離地面1米)

步入式高溫老化試驗室/大型低溫環(huán)境實驗設備符合標準:

GJB150.3(ML-STD0-810D)高溫試驗方法

GJB150.4(MIL-STD-810D)低溫試驗方法

GJB360.8-87(MIL-STD-202f)高溫壽命試驗

GB/T5170.2-96《溫度試驗設備》

電工電子產品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗A：低溫試驗方法GB 2423.1-89 (IEC68-2-1)

電工電子產品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗B：高溫試驗方法GB 2423.2-89 (IEC68-2-2)

性能指標符合GB5170、2、3、5、6-95《電工電子產品環(huán)境試驗設備基本參數檢定方法低溫、高溫、恒定濕熱、交變濕熱試驗設備》的要求

控制裝置：

★  控制器為LCD顯示屏,屏幕觸摸設定

★  可程序功能能有30Patten×800step×999cycle之容量,每個step99h59min,4組Timersignal,對外具RS232C通訊接口。

★  具定點及可程序執(zhí)行功能,預約啟動,冷熱開機斜率設定運轉參數可提供選擇

★  可設定10組串聯程序,每串聯結6組程序。

★  每組程序中可設定5組子程序做區(qū)域循環(huán)每組循環(huán)999次。

★  具九點故障警示及簡易維修方法。

★  箱體左右各個∮50mm測試孔

★  中、英文屏幕顯示,附RS232通訊接口及計算機聯機軟件。

濕度控制系統(tǒng)：

●  采用電子并位方式微動加濕系統(tǒng)。（SSR驅動）

●  加濕筒采整座不銹鋼制成，并附有水位觀測窗口。

●  采蒸發(fā)器盤管露點溫度（ADP）層流接觸除濕方式。

●  附過熱、溢流雙重保護裝置。

●  加濕、除濕系統(tǒng)獨立。

●  水位控制采機械浮球水閥，杜電子式誤動作。

●  供濕水采連續(xù)進水，不回收系統(tǒng).箱體外供水源及排水由使用單位負責。