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簡(jiǎn)要描述：led高低溫沖擊試驗(yàn)箱/溫度沖擊實(shí)驗(yàn)箱主要適合用于電工電子電器機(jī)械等零組件、自動(dòng)化零部件、防工業(yè)行業(yè)、航天研究所、兵工業(yè)、通訊產(chǎn)品或組件、汽車成品或配件、金屬材料、化學(xué)材料、五金塑料、LED、LCD光電、光伏、照明、BGA、PCB基扳、電子芯片IC、半導(dǎo)體陶磁及高分子材料之物理牲變化,測(cè)試其材料對(duì)冷、熱溫的快速反復(fù)抵抗力及工業(yè)產(chǎn)品處于熱脹冷縮的環(huán)境時(shí)所出現(xiàn)的化學(xué)變化或者物理傷害，可確認(rèn)工
產(chǎn)品型號(hào)： 廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家更新時(shí)間：2023-04-23訪 問(wèn) 量：3299詳細(xì)介紹
| 品牌 | 愛(ài)佩科技 |
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led高低溫沖擊試驗(yàn)箱/溫度沖擊實(shí)驗(yàn)箱主要適合用于電工電子電器機(jī)械等零組件、自動(dòng)化零部件、防工業(yè)行業(yè)、航天研究所、兵工業(yè)、通訊產(chǎn)品或組件、汽車成品或配件、金屬材料、化學(xué)材料、五金塑料、LED、LCD光電、光伏、照明、BGA、PCB基扳、電子芯片IC、半導(dǎo)體陶磁及高分子材料之物理牲變化,測(cè)試其材料對(duì)冷、熱溫的快速反復(fù)抵抗力及工業(yè)產(chǎn)品處于熱脹冷縮的環(huán)境時(shí)所出現(xiàn)的化學(xué)變化或者物理傷害，可確認(rèn)工業(yè)產(chǎn)品的質(zhì)量,從的IC到重機(jī)械的組件，可作為工業(yè)行業(yè)眾多產(chǎn)品改進(jìn)品質(zhì)的依據(jù)或參考。以便考核產(chǎn)品的適應(yīng)性或?qū)y(cè)試產(chǎn)品的行為作出評(píng)價(jià)。是新產(chǎn)品研發(fā)、樣機(jī)實(shí)驗(yàn)、產(chǎn)品合格鑒定試驗(yàn)過(guò)程*的重要試驗(yàn)手段。
led高低溫沖擊試驗(yàn)箱/溫度沖擊實(shí)驗(yàn)箱的型號(hào)與簡(jiǎn)易參數(shù)：
沖擊試驗(yàn)箱型號(hào) | AP-CJ-80 | AP-CJ-150 | AP-CJ-250 | AP-CJ-480 | ||
內(nèi)箱尺寸 | 50×40×40 | 60×50×50 | 70×60×60 | 80×80×75 | ||
外箱尺寸約（以實(shí)際尺寸為準(zhǔn)） | 161×178×166 | 183×178×188 | 192×205×200 | 202×225×215 | ||
高箱儲(chǔ)存箱預(yù)熱溫度范圍 | -60℃～+200℃ | |||||
低溫儲(chǔ)存箱預(yù)冷溫度范圍 | -10℃～-55℃；-10℃～-65℃；-10℃～-75℃； | |||||
測(cè)試塑料產(chǎn)品可選擇溫度范圍 | 高溫：RT～+150℃ | |||||
低溫：RT～-40℃；RT～-55℃；RT～-65℃； | ||||||
性能 | 溫度穩(wěn)定度 | ±2℃ | ||||
移動(dòng)與歸復(fù)時(shí)間 | 移動(dòng)時(shí)間約10秒鐘，恢復(fù)時(shí)間約3~5 min | |||||
高箱儲(chǔ)存箱升溫時(shí)間 | ℃ | 150 | 150 | 150 | 150 | |
min | 40 | 40 | 40 | 40 | ||
高箱儲(chǔ)存箱降溫時(shí)間 | ℃ | -55 -65 -75 | -55 -65 -75 | -55 -65 -75 | -55 -65 -75 | |
min | 70 80 90 | 80 90 100 | 90 100 110 | 100 110 120 | ||
滿足的標(biāo)準(zhǔn)有以下:
GB/T2423.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 2部分試驗(yàn)方法 試驗(yàn)A 低溫;GJB360.7-87溫度沖擊試驗(yàn);GB/T 2423.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)B:高溫;GB/T 10592 -2008 高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件;GB/T 10589-2008 低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件;GB/T 11158-2008 高溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件;GB/T 2423.22-2002溫度變化;GB/T 5170.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法 總則;SJ/T10187-91Y73系列溫度變化試驗(yàn)箱——箱式；SJ/T10186-91Y73系列溫度變化試驗(yàn)箱——二箱式;GB/T5170.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法 溫度試驗(yàn)設(shè)備;GB2424.1 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 高低溫試驗(yàn)導(dǎo)則;GB/T 2424.13-2002試驗(yàn)方法溫度變化試驗(yàn)導(dǎo)則
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